Detail Cantuman

Pencarian Spesifik
Image of X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications

Text

X-Ray Diffraction for Materials Research: From Fundamentals to Applications


Tidak Tersedia Deskripsi


Ketersediaan

#
Perpustakaan Fakultas Teknik (Warna Hitam) 620.11272 LEE/x
02010202170088
Tersedia

Informasi Detail

Judul Seri
-
No. Panggil
620.11272 LEE/x
Penerbit Apple Academic Press : Oakville.,
Deskripsi Fisik
xii, 282p.: ill.; 25,5x18,5 cm
Bahasa
English
ISBN/ISSN
9781771882996
Klasifikasi
620.11272
Tipe Isi
-
Tipe Media
-
Tipe Pembawa
-
Edisi
-
Subjek
X-rays
Diffraction
Radiography Industrial
Materials Sinar X
Difraksi
Industri Radiografi
Bahan
Info Detail Spesifik
-
Pernyataan Tanggungjawab

Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain




Informasi

Akses Katalog Publik Daring - Gunakan fasilitas pencarian untuk mempercepat penemuan data katalog